yieldWerx Semiconductors

yieldWerxは半導体デバイスの設計・製造・試験データを統合し、予測分析と自動化を通じて収率と信頼性の向上、上市までの時間短縮を実現します。初期デバイス特性評価から自動化された収率・品質管理、最終的なRMA分析までを一連のワークフローとして提供します。新しいICやテストプログラムの特性評価に必要なツールと技術をエンジニアに供給し、OSATでの生産立ち上げを速め、収率の逸脱を迅速に特定・診断します。技術者はデータ駆動の意思決定を迅速化し、品質リスクを低減します。